Roughness measuring device probeHommel
P 2FE 30 P2F E 100
Roughness measuring device probe
Hommel
P 2FE 30 P2F E 100
Vaste prijs excl. btw
€ 125
Toestand
Gebruikt
Locatie
Wiefelstede 

Basisgegevens
- Machinetype:
- Roughness measuring device probe
- Producent:
- Hommel
- Model:
- P 2FE 30 P2F E 100
- Toestand:
- goed (gebruikt)
Prijs & locatie
Vaste prijs excl. btw
€ 125
- Locatie:
- 26215 Wiefelstede, DE

Bellen
Details over het aanbod
- Advertentie-ID:
- A921-1358
- Referentienummer:
- 30459
- Laatste aanpassing:
- voor het laatst op 16.01.2026
Omschrijving
Contour measuring device, contour measuring device, contourograph, contourograph, roughness measuring device, roughness measurement, roundness measurement, roughness probe
-Manufacturer: Hommel, measuring probe for roughness measuring device
-Measuring probe: Type P2FE 30 / P2F E 100
Djdpfxjk Hdr To Adqjkw
-Individual components: see photos
-Box dimensions: 235/105/H30 mm
-Weight: 0.4 kg
-Manufacturer: Hommel, measuring probe for roughness measuring device
-Measuring probe: Type P2FE 30 / P2F E 100
Djdpfxjk Hdr To Adqjkw
-Individual components: see photos
-Box dimensions: 235/105/H30 mm
-Weight: 0.4 kg
Aanvraag sturen
Telefoon & Fax
+49 4402 ... weergeven
Misschien bent u ook geïnteresseerd in deze advertenties.
Geslaagd:
Uw bericht is verzonden.
Advertentie
Wiefelstede
228 km
Meetmicroscoop
Leitz851735
Leitz851735
Geslaagd:
Uw bericht is verzonden.
Advertentie
Győr
1.013 km
Digitale Ultrasone Foutdetectorreeks
ShowRangeSRFD2600
ShowRangeSRFD2600
Uw advertentie is succesvol verwijderd
Er is een fout opgetreden








































